EZ-200 Advance

Ogólne informacje
Specyfikacja
Opis
Zdjęcia
Downloads

Krótki opis

EZ-200 Advance to najbardziej zaawansowany technologicznie system pomiaru szkieł, pozwala na wykonanie precyzyjnego pomiaru zaledwie w trzech krokach: umieszczenie szkła, naciśnięcie guzika i odczyt wyniku. Czytaj więcej>

Cechy kluczowe

W pełni automatyczna analiza soczewki
Możliwość pomiaru mocy soczewki każdego typu
Automatyczne wykrywanie typu soczewki
Bardzo łatwa obsługa urządzenia
Duży kolorowy wyświetlacz
Automatyczne wykrywanie zanieczyszczeń

Produkty powiązane

BV-1000
BV-1000 - wpełni zautomatyzowany system obuocznego subiektywnego pomiaru refrakcji
TRC-NW300
TRC-NW300 – funduskamera non-mydriatic, idealna do podstawowego obrazowania i analizy...
ALE-5100 Series
Seria automatów szlifierskich ALE-5100 składa się z trzech modeli, które zaspokajaj...

Zakres pomiaru	Moc sferyczna: 0 do ±15D (krok 0.25D) / Moc cylindryczna: 0 do ±10D (krok 0.25D) Oś cylindryczna: 0 do 180°(krok 1°) / Moc pryzmatyczna: 0 do 10Δ (przy PD 64mm) / Zakres PD: 48 do 80 mm (hPD 24 do 40mm)
Obszar pomiaru	24 ×44 mm (left & right)
Czas pomiaru	Soczewki typu single lens (5 s) / Progresywne soczewki (10 s) *tylko czas pomiaru
Źródło światła	LED 623nm
Monitor	Wyświetlacz LCD 5.7' wskazujący: R/L, S, C, A, Add, hPD, PD, mapę obszaru progresywnego (24×44mn)
Interfejs zewnętrzny	RS-232C (IN/OUT) & USB (Ver.2.0) (OUT)
Pobór mocy	60VA
Zasilanie	AC (120 do 240V)
Wymiary	200(W)×260(D)×410(H) mm
Waga	12 kg

Opis

EZ-200 Advance to najbardziej zaawansowany technologicznie system pomiaru szkieł, pozwala na wykonanie precyzyjnego pomiaru zaledwie w trzech krokach:

1. umieszczenie szkła,

2. naciśnięcie guzika,

3. odczyt wyniku.

Urządzenie pracuje w oparciu o sensor Hartmann Snack. Przez płytkę Hartmann Snack następuje natychmiastowe skanowanie całej powierzchni soczewki. Jest to dużo szybsza i wydajniejsza metoda w porównaniu do ręcznego wyrównywania w innych tradycyjnych dioptriomierzach. Automatyczne skanowanie dużych przestrzeni pomiaru redukuje prawdopodobieństwo wystąpienia przekłamań powstałych wskutek pominięcia punktów w procesie pomiaru i zapewnia dużą powtarzalność, która nie zależy od wprawy operatora.